一、檢測(cè)內(nèi)容及要求
檢測(cè)內(nèi)容：
最大尺寸長(zhǎng)21.35mm*寬1.57mm的產(chǎn)品的尺寸檢測(cè)
| 序號(hào) | 檢測(cè)位置 | 檢測(cè)方式 | 是否可檢 |
| 1 | 麻點(diǎn) | 正光檢測(cè) | 可檢 |
| 2 | 缺損 | 正光檢測(cè) | 可檢 |
| 3 | 裂紋 | 正光檢測(cè) | 可檢 |
注明：磁性材料光學(xué)視覺檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)磁瓦外觀，均需在影像下清晰可見才能檢測(cè)。檢測(cè)效率：每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于180件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號(hào)：SP-T300標(biāo)定制機(jī) 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號(hào) | 部件名稱 | 規(guī)格型號(hào) | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測(cè)軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺(tái) |
| 4 | 工業(yè)相機(jī) | Barsler工業(yè)相機(jī) | 6套 |
| 5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 6套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 6套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 6套 |
| 8 | 檢測(cè)平臺(tái) | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺(tái) | 1套 |
| 9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運(yùn)動(dòng)協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
設(shè)備外觀3D立體圖
樣件測(cè)試圖片:
底部正光檢測(cè)原圖：
底部正光檢測(cè)良品分析圖：OK
底部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：缺損
底部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：裂紋
底部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：缺損
頂部正光檢測(cè)良品分析圖：OK
頂部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：麻點(diǎn)
頂部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：麻點(diǎn)
頂部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：麻點(diǎn)
頂部正光檢測(cè)分析圖： NG 不良原因：缺損
側(cè)面正光檢測(cè)良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：缺損
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：裂紋
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：裂紋
側(cè)面正光檢測(cè)良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：裂紋
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：缺損
側(cè)面正光檢測(cè)良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：裂紋
側(cè)面正光檢測(cè)良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測(cè)分析圖：NG 不良原因：缺損
四、磁性材料光學(xué)視覺檢測(cè)設(shè)備安裝要求:
設(shè)備放置的檢測(cè)空間: 立體式設(shè)備檢測(cè)機(jī)臺(tái)配置檢測(cè)軟件和所需相機(jī)光源，需要保證有足夠的空間以安裝設(shè)備。
環(huán)境溫度： 0-50攝氏度；
空氣濕度： 90% RH以下；
電子干擾： 為設(shè)備提供電子干擾較小的地方。
電源： 交流220V，50Hz， 耗電＜1KVA。
